Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

   Статья

Новиков В. А., Кушнер А. В., Шилов А. В.
   Запись поля дефекта на магнитную ленту при тангенцальном намагничивании полями последовательно противоположных направлений / Новиков В. А., Кушнер А. В., Шилов А. В. // Дефектоскопия. - 2010. - № 8. - С. 54-60.

620.179 Методы испытаний материалов без разрушения. Дефектоскопия. Прочие методы испытаний

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 54-60
   Журнал
   Дефектоскопия.
   № 8. - 2010.