Подробное описание документа

   Статья

Гавриш С. В.
   Влияние дефектов структуры на свойства сапфировой оболочки разрядного источника излучения / Гавриш С. В. // Дефектоскопия. - 2010. - № 8. - С. 73-81.

УДК

620.179 Методы испытаний материалов без разрушения. Дефектоскопия. Прочие методы испытаний

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 73-81

   Журнал

   Дефектоскопия.
   № 8. - 2010.

подробнее