Подробное описание документа

Гавриш С. В.
   Зависимость надежности разрядных источников излучения от структурного совершенства сапфировой оболочки / Гавриш С. В. // Дефектоскопия. - 2010. - № 12. - С. 55-63.

УДК

620.179.13 Термические методы

Статья опубликована в следующих изданиях