Подробное описание документа

Анищик В. М., Понарядов В. В., Углов В. В.
   Дифракционный анализ : учебное пособие для вузов / Анищик В. М., Понарядов В. В., Углов В. В. - Минск : Вышэйшая школа, 2011. - 213 с. : ил. - Библиогр.: с. 213. - ISBN 978-985-06-1834-4.

IPR SMART

Войти и читать

https://www.iprbookshop.ru/20072.html

Рассмотрены основные положения физики рентгеновских лучей, рентгенотехники, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов. Изложены основные методы структурного анализа и его практического применения для исследования кристаллов.
Для студентов, специализирующихся в области физики и химии конденсированного состояния, металлофизики и радиационного материаловедения. Может быть полезно аспирантам, инженерам и исследователям.

УДК

539.26 Рентгеноструктурный анализ. Исследование сверхтонкой структуры вещества при помощи дифракции рентгеновских лучей

Предметные рубрики

• Рентгеноструктурный анализ - Учебники и пособия

Общее кол-во в фондах

1 экз.

Заказать в читальный зал

1. Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
2. Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л