Подробное описание документа

Гудков А. Г., Попов В. В.
   Повышение надежности и качества ГИС и МИС СВЧ / Гудков А. Г., Попов В. В. - М. : ООО "Автотест", 2012.
   Кн. 1. - 2012. - 221 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9903751-1-6.

Излагаются результаты новых разработок и исследований радиоэлектронных устройств на базе ГИС и МИС СВЧ. Рассмотрены проблемы снижения себестоимости и повышения надежности и качества микросхем СВЧ при их создании, производстве и эксплуатации. Обсуждаются тенденции и перспективы развития ГИС и МИС локации, навигации, управлении и связи, медицине.
Для специалистов в области проектирования, конструирования, производства и применения приборов, устройств и систем, использующих достижение СВЧ микроэлектроники, а также для инженерно-технических работников радиолокации, связи, медицины и промышленной электроники.
Полезна преподавателям, аспирантам, студентам старших курсов высших учебных заведений.

УДК

621.382 Электронные элементы, использующие свойства твердого тела. Полупроводниковая электроника

Предметные рубрики

• Электроника сверхвысоких частот
• Интегральные схемы - Надежность

Общее кол-во в фондах

5 экз.

Заказать на абонемент

Заказать в читальный зал

1. Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
2. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
3. Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
4. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313