Подробное описание документа

Лич Р.
Инженерные основы измерений нанометровой точности / Лич Р. ; пер. с англ. Заблоцкий А. В. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 399 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-91559-119-5.

Аннотация

Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс.
Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.

УДК
006.91 Метрология. Меры и веса в целом

Предметные рубрики

Нанометрология

Общее кол-во в фондах
29 экз.

Заказать на абонемент

Заказать в читальный зал

Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов

Абонемент старших курсов, ГУК, ауд. 213
Абонемент третьего курса, УЛК, ауд. 311л
Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313
Читальный зал ауд.345, ГУК, ауд. 345