Подробное описание документа

Быков Ю. А., Карпухин С. Д.
   Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ (аппаратура, принципы работы, применение) : учеб. пособие по курсу "Современные методы исследования структуры материалов" / Быков Ю. А., Карпухин С. Д. ; ред. Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2002. - 30 с. : ил. - Библиогр.: с. 29. - ISBN 5-7038-2014-6.

Читать онлайн Аннотация

В пособии рассматриваются устройства, npинцип paбoты и облacти npименения растрового электpoнного микроскопа и ретгеноспектpального микроанaлизaтoра.
Предназначено для студентов специальности "Материаловедение в машиностроении", слушателей Межотpаслевого институтa повышения квалификации кадров по новым направлениям развития техники и технологии МГТУ им. Н.Э. Баумана, а также для студентов других специальностей, связанных с оценкой состояния поверхности изделий их общего и локального химического состава.

УДК

537.533.35+543.427.34

Предметные рубрики

• Микроскопия электронная - Учебники и пособия
• Рентгеноспектроскопия - Учебники и пособия

Авторы МГТУ

• Быков Юрий Александрович
• Карпухин Сергей Дмитриевич

Общее кол-во в фондах

6 экз.

1. Абонемент старших курсов, ГУК, ауд. 213
2. Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
3. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
4. Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
5. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313
6. Читальный зал ауд.345, ГУК, ауд. 345