Подробное описание документа
Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела : учеб. пособие для вузов / Троян В. И., Пушкин М. А., Борман В. Д., Тронин В. Н. ; ред. Борман В. Д. ; Моск. инженерно-физ. ин-т (гос. ун-т). - М. : Изд-во моск. инженерно-физ. ин-та, 2008. - 259 с. : ил. - Библиогр.:
В книге представлены физические основы экспериментальных методов, являющихся базовыми в исследованиях наноструктур и поверхности твердого тела: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, ожеэлектронная спектроскопия, спектроскопия рассеяния медленных ионов, сканирующая зондовая микроскопия и дифракция медленных эленктронов. Набор этих методов позволяет проводить исследования структурных, электронных и магнитных свойств нанообъектов и поверхности.
Для специалистов в области физики поверхности и наноструктур, аспирантов и студентов старших курсов физических специальностей университетов.
539.2 Свойства и структура молекулярных систем1 экз.
- Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
- Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л