Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

Таперо К. И., Диденко С. И.
   Основы радиационной стойкости изделий электронной техники. Радиационные эффекты в изделиях электронной техники : учеб. пособие для вузов / Таперо К. И., Диденко С. И. ; Нац. исслед. технол. ун-т "МИСиС". - М. : Изд. Дом МИСиС, 2013. - 348 с. : ил. - Библиогр.: с. 346-348. - ISBN 978-5-87623-661-6.

Учебное пособие посвящено вопросам деградации полупроводниковых приборов и интегральных схем вследствие дефектов, образующихся при воздействии космической радиации. Рассмотрены следующие вопросы: радиационные условия в космосе; влияние радиационно-индуцированных структурных повреждений на свойства полупроводников; деградация кремниевых приборов и микросхем вследствие радиационных эффектов при воздействии ионизирующих излучений космического пространства; влияние радиационно-индуцированных структурных повреждений на деградацию изделий оптоэлектроники; особенности испытаний изделий электронной техники и радиоэлектронной аппарaтypы на стойкость к воздействию ионизирующих излучений космического пространства.
Предназначено для бакалавров и магистров, обучающихся по направлению 210100 «Электроника и наноэлектроника», а также студентов, обучающихся по специальности «Микроэлектроника и твердотельная электроника». Будет полезно специалистам, работающим в области конструирования изделий полупроводниковой электроники и технологии их изготовления, а также обеспечения надежности и радиационной стойкости комплектующих элементов и аппаратуры.

1 экз.
Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов
  1. Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
  2. Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л