Подробное описание документа

   Метод дифракации отраженных электронов в материаловедении / ред. Шварц А., Кумар М., Адамс Б., Филд Д. ; пер. с англ. Иванов С. А. - М. : Техносфера, 2014. - 559 с., [52] л. ил. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-385-1.

Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности
каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ.
Перевод на русский язык второго оригинального издания книги «Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении» является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области.
Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.