Подробное описание документа

   Метрологическое обеспечение нанотехнологий в промышленных условиях / Михайлов В. П., Степанов Г. В., Селиваненко А. С., Базиненков А. М. // Наноинженерия. - 2014. - № 10. - С. 14-17.

УДК

543.27 Анализ газа

Авторы МГТУ

• Михайлов Валерий Павлович
• Базиненков Алексей Михайлович

Статья опубликована в следующих изданиях