Подробное описание документа

Золотаревский С. Ю.
   Обеспечение единства измерений геометрических параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : автореф. дис... дтн : 05. 11. 15 / Золотаревский С. Ю. ; Всерос. НИИ метрологической службы. - М., 2015. - 32 с. : ил.

УДК

620.179.118 Контроль шероховатости. Измерение шероховатости

Предметные рубрики

• Качество обработанной поверхности - Диссертации
• Интерферометры - Диссертации

Общее кол-во в фондах

2 экз.

1. Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
2. Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л