Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

   Статья

Семенцов С. Г., Гриднев В. Н., Сергеева Н. А.
   Тепловизионные методы оценки влияния температурных режимов на надежность электронной аппаратуры / Семенцов С. Г., Гриднев В. Н., Сергеева Н. А. - DOI 10.18698/0236-3933-2016-1-3-14 // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2016. - № 1. - С. 3-14.

Скачать документ
Полнотекстовый документ
DOI 10.18698/0236-3933-2016-1-3-14
vestnikprib.bmstu.ru/catalog/iemimis/envc/947.html

Рассмотрены методы оценки температурных режимов и их влияние на надежность электронной аппаратуры. Проведен анализ отказов элементов, возникающих вследствие нарушения теплового режима, показаны возможные причины их возникновения. Продемонстрирована применимость методов бесконтактной тепловизионной диагностики для выявления скрытых дефектов, приводящих к нарушениям теплового режима и к параметрическим или внезапным отказам в элементах электронной аппаратуры.

658.512 Проектирование производственных (технологических) процессов. Определение последовательности операций. Маршрутизация процесса

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 3-14
   Журнал
   Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - ISSN 0236-3933 (print). - ISSN 2687-0614 (web).
   № 1. - 2016.