Подробное описание документа

Золотаревский С. Ю.
   Метрологическое обеспечение параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : [учебное пособие] / Золотаревский С. Ю. ; ред. Киселёв М. И. - М. : Университетская книга, 2016. - 197 с. : ил. - Библиогр.: с. 186-197. - ISBN 978-5-98699-198-6.

Аннотация

Представлен системный вспомогательный материал для начинающих метрологов и специалистов, работающих в сфере обеспечения единства измерений геометрических параметров рельефа, шероховатости и формы поверхности в нанометровом диапазоне применительно к новым производственным технологиям, в том числе аддитивным технологиям изготовления ответственных деталей продукции машино- и приборостроения. Предпринята попытка изложения методологии комплексного подхода к проблеме совершенствования системы обеспечения единства и достоверности в отдельном виде измерений.
Содержание книги основано на многолетних совместных исследованиях и разработках научных коллективов государственных научно-метрологических институтов Росстандарта - ФГУП «ВНИИ метрологической службы» и ФГУП «ВНИИ оптико-физических измерений», а также кафедры МТ-4 МГТУ имени Н.Э. Баумана.
Для использования в учебном процессе и научных исследованиях при подготовке магистров на кафедре «Метрология и взаимозамеияемость» МГТУ имени Н.Э. Баумана по направлению «Стандартизация и метрология».

УДК

620.179.118+006.91

Предметные рубрики

• Качество обработанной поверхности - Контроль
• Интерферометры

Общее кол-во в фондах

16 экз.

1. Абонемент старших курсов, ГУК, ауд. 213
2. Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
3. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
4. Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
5. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313