Подробное описание документа

   Анализ поверхности методами Оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. - Москва : Мир, 1987. - 598 с.

Общее кол-во в фондах

2 экз.

Заказать на абонемент

Заказать в читальный зал

1. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
2. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313