Подробное описание документа

   Исследование кинетики ВАХ НЕМТ транзисторов в результате действия внешних факторов / Вьюгинов В. Н., Тихомиров В. Г., Видякин С. И., Добров В. А., Зыбин А. А., Агасиева С. В., Маркин А. В. // Машиностроитель. - 2017. - № 1. - С. 26-36.

УДК

621.382 Электронные элементы, использующие свойства твердого тела. Полупроводниковая электроника

Авторы МГТУ

• Видякин Святослав Игоревич
• Агасиева Светлана Викторовна

Статья опубликована в следующих изданиях