Подробное описание документа
Статья
Высокоточный метод контроля радиусов кривизны оптических поверхностей / Барышников Н. В., Денисов Д. Г., Карасик В. Е., Кудряшов А. В., Никитин А. Н., Сахаров А. А. // Известия ВУЗов. Сер. "Приборостроение". - 2016. - Т. 59, № 12. -
681.7.08 Общие основы и методы оптических измерений. Виды конструкций оптических измерительных приборов