Подробное описание документа

Оценка и обеспечение надежности изделий микро- и наноэлектроники, микросистемной техники : учеб. пособие / Тимошенков С. П., Заводян А. В., Симонов Б. М., Горошко В. Н. - М. : Изд-во МИЭТ, 2013.
Ч. 2. - 2013. - 163 с. : ил. - Библиогр.: с. 142-149. - ISBN 978-5-7256-0720-8.

Аннотация

Представлены теоретические основы надежности изделий микро- и наноэлектроники (ИМНЭ), в том числе технологические и системные методы обеспечения надежности с учетом экспериментальных подходов к ее оценке. Рассмотрены методы анализа эмпирических функций распределения, предложена инновационная аксиоматическая теория качества и надежности ИМНЭ. Приведены примеры оценки надежности конкретных изделий ИМНЭ и микросистемной техники.
Рекомендуется студентам, обучающимся по техническим и экономическим специальностям.

УДК
621.3.049.77 Микроэлектроника. Интегральные схемы

Предметные рубрики

Микроэлектронные приборы - Учебники и пособия

Общее кол-во в фондах
1 экз.

Заказать в читальный зал

Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов

Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л