Подробное описание документа

Статья

Кузнецов В. В., Кечиев Л. Н.
Метод измерения емкостей для моделирования воздействия электростатического разряда на интегральную микросхему / Кузнецов В. В., Кечиев Л. Н. // Наукоемкие технологии в приборо-и машиностроении и развитие инновационной деятельности в вузе : материалы Всерос. научно-техн. конф., 4-6 декабря 2012 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана. Калужский фил. - 2012. - Т. 1. - С. 61-62.

Авторы МГТУ

Кузнецов Вадим Вадимович

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 61-62

Наукоемкие технологии в приборо-и машиностроении и развитие инновационной деятельности в вузе : материалы Всерос. научно-техн. конф., 4-6 декабря 2012 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана. Калужский фил. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2012. - ISBN 978-5-7038-3639-2.
Т. 1. - 2012. - 246 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-7038-3640-8.

подробнее