Подробное описание документа

Барабанов В. Ф., Пашковский М. Е., Подвальный С. Л.
   Оперативная оценка стойкости полупроводниковых изделий к локальным радиационным эффектам : монография / Барабанов В. Ф., Пашковский М. Е., Подвальный С. Л. - Воронеж : Научная книга, 2012. - 128 с. : ил. - Библиогр.: с. 125-128. - ISBN 978-5-98222-775-1.

Аннотация

В работе рассмотрены современные подходы к оперативной оценке характеристик сложных объектов на основе интегрированных баз данных. Представлено специальное программное обеспечение, позволяющее проводить оценку стойкости полупроводниковых изделий комплектующих бортовую аппаратуру к локальным радиационным эффектам при воздействии отдельных заряженных частиц космического пространства.
Издание предназначено для специалистов, научных работников и аспирантов в области разработки программных средств для моделирования и проектирования радиоэлектронных систем.

УДК

621.3.049.77 Микроэлектроника. Интегральные схемы

Предметные рубрики

• Полупроводниковые приборы - Влияние ионизирующих излучений

Общее кол-во в фондах

1 экз.

1. Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
2. Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л