Подробное описание документа

Аверченков В. И., Васильев А. С., Хейфец М. Л.
   Технологическая наследственность при формировании качества изготавливаемых деталей / Аверченков В. И., Васильев А. С., Хейфец М. Л. // Наукоемкие технологии в машиностроении. - 2018. - № 10. - С. 27-32.

УДК

658.562 Производственный контроль. Технический контроль производства. Контроль и надзор за качеством

Авторы МГТУ

• Васильев Александр Сергеевич

Статья опубликована в следующих изданиях