Подробное описание документа

Цепулин В. Г.
   Высокоскоростной спектрофотометрический метод измерения толщин многослойных пленочных структур : дис... ктн : 05. 11. 07 / Цепулин В. Г. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. (Нац. исслед. ун-т). - М., 2019. - 167 л. : ил. - Библиогр.: л. 158-167.

УДК

543.424 Методы, основанные на измерении отраженного и рассеянного света

Предметные рубрики

• Спектрофотометрия - Диссертации

Общее кол-во в фондах

1 экз.

Заказать в читальный зал

1. Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
2. Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л