Подробное описание документа

Автореферат диссертации

Цепулин В. Г.
Высокоскоростной спектрофотометрический метод измерения толщин многослойных пленочных структур : автореф. дис... ктн : 05. 11. 07 / Цепулин В. Г. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2019. - 16 с.

УДК
543.424 Методы, основанные на измерении отраженного и рассеянного света

Предметные рубрики

Спектрофотометрия - Диссертации

Общее кол-во в фондах
2 экз.

Заказать на абонемент

Заказать в читальный зал

Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов

Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л