Подробное описание документа

Таперо К. И., Улимов В. Н., Членов А. М.
   Радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения : [монография] / Таперо К. И., Улимов В. Н., Членов А. М. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2018. - 304 с. : ил. - Библиогр.: с. 289-297. - ISBN 978-5-9963-0633-6.

В монографии анализируется влияние ионизирующих излучений (ИИ), преимущественно космического пространства, на характеристики изделий микро- и наноэлектроники.
Рассмотрены: основы физики взаимодействий ИИ с полупроводниками; изменение электрофизических параметров приборных структур в результате образования наноразмерных дефектов под действием ИИ; дозовые ионизационные эффекты в структуре Si/SiO2 и их влияние на характеристики приборов и микросхем; особенности радиационных испытаний изделий, изготовленных по МОП-, КМОП-, а также по биполярной технологии, на стойкость к воздействию низкоинтенсивного ИИ; одиночные события в изделиях микро- и наноэлектроники при воздействии отдельных заряженных частиц.
Для технических специалистов, работающих в области электроники, а также для студентов и аспирантов.

УДК

621.3.049.77+621.315.592

Предметные рубрики

• Интегральные схемы - Влияние ионизирующих излучений
• Полупроводниковые приборы - Влияние ионизирующих излучений
• Ионизирующие излучения - Действие на материалы

Общее кол-во в фондах

2 экз.

Заказать на абонемент

Заказать в читальный зал

1. Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
2. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
3. Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
4. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313

Похожие издания

Таперо К. И., Улимов В. Н., Членов А. М.
   Радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения : [монография] / Таперо К. И., Улимов В. Н., Членов А. М. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2012. - 304 с. : ил. - Библиогр.: с. 289-297. - ISBN 978-5-9963-0633-6.

Кол-во в фондах 15 экз.

подробнее