Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

Суворов Э. В.
   Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов / Суворов Э. В. - М. : Юрайт, 2021. - 271 с. : ил. - (Высшее образование). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-534-09995-9.

В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами.
В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме, приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной.
Содержание учебного пособия соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования.
Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.

539.26 Рентгеноструктурный анализ. Исследование сверхтонкой структуры вещества при помощи дифракции рентгеновских лучей
3 экз.
Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов
  1. Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
  2. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
  3. Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
  4. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313