Подробное описание документа

Статья

Крюков В. П.
Методика оценки отражательных характеристик стеклосфер / Крюков В. П. // Оптоэлектроника : сборник статей / ред. Пахомов И. И. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1985. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 431). - С. 50-55.

УДК
681.782.473 Оптоэлектронные устройства

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 50-55

Оптоэлектроника : сборник статей / ред. Пахомов И. И. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МВТУ им. Н. Э. Баумана, 1985. - 124 с. : ил. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 431). - Библиогр. в конце статей.

подробнее