Подробное описание документа

   КР-микроспектроскопия напряжений, возникающих при фемтосекундном лазерном микропробое алмаза / Помазкин Д. А., Данилов П. А., Кудряшов С. И., Мартовицкий В. П., Матяев И. Д., Васильев Е. А. // Оптика и спектроскопия. - 2024. - Т. 132, № 1. - С. 75-78.

Изучены индуцированные напряжения, вызванные лазерным оптическим пробоем в объеме природного алмаза, полированного по плоскости (331), фемтосекундными (300 fs) лазерными импульсами с различной энергией. С помощью скрещенных поляризационных фильтров визуализированы зоны сжатия и растяжения в областях воздействия. Получены профили напряжений методом спектроскопии комбинационного рассеяния, а также зависимости напряжений от энергии лазерного импульса в ключевых точках профилей. Результаты профилирования показали, что рост напряжений растяжения происходит быстрее, чем сжатия с увеличением энергии накачки.
Ключевые слова: Оптический пробой алмаза, фемтосекундные лазерные импульсы, спектроскопия комбинационного рассеяния, напряжения растяжения, напряжения сжатия

Авторы МГТУ

• Кудряшов Сергей Иванович
• Матяев Иван Дмитриевич

Статья опубликована в следующих изданиях