Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

   Статья

Ван Тхань Зюи
   Автоматизация обнаружения дефектов печати с использованием машинного зрения / Ван Тхань Зюи // Комплексная автоматизация проектирования и производства (КАПП(М) - 2024) : материалы 2-ой молодёжной конференции с международным участием, Москва, 31 мая 2024 года / ред. Карпенко А. П. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - М., 2025. - С. 63-67.

Работа содержит подробное описание и метод использования измерения Индекса Структурного Сходства (SSIM) в машинном зрении для контрольной операции обнаружения структурных и цветовых дефектов в печатной продукции.
Ключевые слова: автоматизация, контрольная операция, машинное зрение, измерение структурного индекса сходства (SSIM)

004.932 Обработка изображений

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 63-67
   Комплексная автоматизация проектирования и производства (КАПП(М) - 2024) : материалы 2-ой молодёжной конференции с международным участием, Москва, 31 мая 2024 года / ред. Карпенко А. П. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2025. - 199 с. : ил. - Библиогр. в конце статей. - ISBN 978-5-7038-6527-9.