Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

   Статья

Сергеев Л. А., Белов Ю. С.
   Рассмотрение метрик используемых при обучении нейронных сетей / Сергеев Л. А., Белов Ю. С. // Наукоёмкие технологии в приборо- и машиностроении и развитие инновационной деятельности в вузе : материалы Региональной научно-технической конференции (Калуга, 23 - 25 апреля 2024 года) : в 2 т. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - 2025. - Т. 2. - С. 189-192.

Рассмотрены основные метрики, используемых при разработке и обучении нейронных сетей для различных типов задач, таких как бинарная классификация, регрессия и многоклассовая классификация. Описаны метрики, позволяющие количественно оценить качество модели. Обращено внимание на важность выбора правильной метрики для конкретной задачи машинного обучения и ее использования при разработке и оценке нейронных сетей. Сделаны выводы о важности метрик при оценке эффективности моделей и достижении поставленных целей в области машинного обучения.
Ключевые слова: нейронные сети, обучение, метрики, качество, точность

004.852 Статистическое обучение и параметрическое обучение

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 189-192
   Наукоёмкие технологии в приборо- и машиностроении и развитие инновационной деятельности в вузе : материалы Региональной научно-технической конференции (Калуга, 23 - 25 апреля 2024 года) : в 2 т. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2025. - ISBN 978-5-7038-6513-2.
   Т. 2. - 2025. - 457 с. : ил. - Библиогр. в конце статей. - ISBN 978-5-7038-6514-9.