Подробное описание документа

Корнев С. А., Андреев В. В.
   Тестирование цифровых микросхем с использованием сканирующих цепочек / Корнев С. А., Андреев В. В. // Наукоёмкие технологии в приборо- и машиностроении и развитие инновационной деятельности в вузе : материалы Всероссийской научно-технической конференции, Калуга, 19-21 ноября 2025 г. : в 2 т. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - 2025. - Т. 1. - С. 64-67.

Рассмотрен алгоритм тестирования цифровых микросхем с применением цепочек сканирования. Показан процесс тестирования с использованием сканирующих ячеек, а также его преимущества по сравнению с обычным функциональным тестированием. Рассмотрены особенности архитектур цепочек сканирования, а также их преимущества и недостатки. Показаны особенности создания тестовых последовательностей с использованием автоматической генерации тестовых последовательностей для поиска неисправностей в цифровых микросхемах.
Ключевые слова: сканирующие цепочки, тестирование цифровых микросхем,
надежность, МДП-прибор, КМОП микросхемы