Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

   Статья

Образцов Д. В., Чернышов В. Н., Шахнов В. А.
   Активный технологический контроль синтеза тонких пленок при производстве сверхбольших интегральных схем / Образцов Д. В., Чернышов В. Н., Шахнов В. А. - DOI 10.18698/0236-3933-2017-6-17-27 // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2017. - № 6. - С. 17-27.

Скачать документ
Полнотекстовый документ
DOI 10.18698/0236-3933-2017-6-17-27
vestnikprib.bmstu.ru/catalog/iemimis/dieng/1060.html

Рассмотрен метод активного технологического контроля электрофизических параметров тонких пленок, используемый при производстве сверхбольших интегральных схем. Приведен алгоритм реализации этого метода в целях достижения минимально допустимых отклонений параметров пленок, что позволяет производить такие схемы по более прогрессивным проектным нормам

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 17-27
   Журнал
   Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - ISSN 0236-3933 (print). - ISSN 2687-0614 (web).
   № 6. - 2017.