Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

   Статья

   Причинный анализ запутанных состояний в томографическом представлении квантовой механики / Киктенко Е. О., Коротаев С. М., Федоров А. К., Юрченко С. О. - DOI 10.18698/2308-6033-2012-5-207 // Инженерный журнал: наука и инновации. - 2012. - № 5. - П.Н. 28.

Скачать документ
Полнотекстовый документ
DOI 10.18698/2308-6033-2012-5-207
engjournal.bmstu.ru/catalog/fundamentals/physics/207.html

В основе квантового причинного анализа, являющегося эффективным методом исследования асимметричных запутанных состояний, лежит использование энтропий фон Неймана. В данной работе рассмотрено построение причинного анализа, который базируется на томографических энтропиях. Квантовые томограммы представляют собой неотрицательные функции распределения вероятностей, получаемые в ходе эксперимента. В качестве примера использования томографического квантового причинного анализа исследованы чистое максимально запутанное и смешанное асимметричное состояния. Получена связь между исходным направлением причинности и направлением квантово-томографической причинности.

Статья опубликована в следующих изданиях

п.н. 28
   Журнал
   Инженерный журнал: наука и инновации. - ISSN 2308-6033 (web).
   № 5. - 2012.