Личный кабинет
Подробное описание документа
Смирнов Е. В.
Сканирующая микроскопия в измерениях нанообъектов / Смирнов Е. В. - DOI 10.18698/2308-6033-2013-6-809 // Инженерный журнал: наука и инновации. - 2013. - № 6. -
Скачать документ
Статья посвящена анализу приборов нанотехнологий и тех физических явлений, которые лежат в их основе. Подробно рассмотрены сканирующий туннельный, атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопы, указаны возможности этих приборов в развитии технологий атомного уровня - атомного дизайна, спинтроники и т. д. В основе действия приборов нанотехнологии лежат квантовые явления, что предъявляет более высокие, чем прежде, требования к уровню подготовки инженерного персонала и, соответственно, к уровню овладения студентами технических университетов современной, в первую очередь, квантовой, физикой. Подчеркивается важность фундаментальной подготовки студентов технических вузов для успешного развития нанотехнологий в нашей стране.
Статья опубликована в следующих изданиях
№ 6. - 2013.
