Подробное описание документа
Хромушина А. А.
Исследование фотометрического метода контроля шероховатости поверхности / Хромушина А. А., Крансуцкая А. А. // Будущее машиностроения России. Всероссийская конференция молодых учёных и специалистов (с международным участием), 18-я, (Москва, 23 - 26 сентября 2025 года) : сборник докладов : в 2 т. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Союз машиностроителей России. - 2026. - Т. 1. -
Работа посвящена разработке алгоритма для косвенной оценки параметра шероховатости Ra поверхности в процессе ее формирования методом селективного лазерного плавления (СЛП). Предложен бесконтактный метод, основанный на анализе полутонового изображения поверхности, полученного в условиях коаксиального бестеневого освещения. Для однородных по материалу поверхностей, каковыми являются изделия СЛП, изменение яркости однозначно связано с наклоном микронеровностей. Теоретической основой алгоритма является модель диффузного отражения Ламберта. Проведенный анализ показывает, что метод применим для оперативного мониторинга и сравнительного анализа шероховатости в условиях серийного производства, однако его абсолютная точность ограничена допущениями модели и требует строгого соблюдения постоянства условий освещения и съемки.
Статья опубликована в следующих изданиях
Т. 1. - 2026. - 659 с. : ил. - Библиогр.
