Подробное описание документа

Фелдман Л., Майер Д.
Основы анализа поверхности и тонких пленок / Фелдман Л., Майер Д. ; ред. Белошицкий В. В. ; пер. С англ. В. А. Аркадьева и Л. И. Огнева. - М. : Мир, 1989. - 342 с.

УДК
535.33 Общие сведения о спектрах. Спектры испускания. Спектры излучения. Эмиссионные спектры

Общее кол-во в фондах
7 экз.

Заказать на абонемент

Заказать в читальный зал

Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов

Абонемент старших курсов, ГУК, ауд. 213
Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313