Подробное описание документа

Фелдман Л., Майер Д.
   Основы анализа поверхности и тонких плёнок : монография / Фелдман Л., Майер Д. ; пер. с англ. Аркадьев В. А., Огнев Л. И. ; ред. пер. Белошицкий В. В. - М. : Мир, 1989. - 342 с. : рис., граф. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-03-001017-3.

УДК

539.1 Ядерная, атомная, молекулярная физика

Предметная рубрика

• Пленки - Ядерно-физический анализ

Общее кол-во в фондах

7 экз.

Заказать на абонемент

Заказать в читальный зал

Заявка на закупку

1. Абонемент старших курсов, ГУК, ауд. 213
2. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
3. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313