Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

   Определение физ. закономерностей зарядовой деградации МДП-структур, вызванных накоплением быстро релаксирующих зарядов : отчет о НИР (заключ.) / МГТУ. Каф. П1-КФ ; рук. темы Барышев В. Г. - М., 2000. - 41 л. - Неотконвертировано: {Шифр темы ОК-П1-99Ф}{Инв.N02.20.0001295}.

621.38 Электроника. Фотоэлектроника. Электронные лампы. Трубки. Рентгенотехника. Ускорители частиц
1 экз.
Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов
  1. Преподавательский абонемент ауд.221л, УЛК, ауд. 221л
  2. Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л