Личный кабинет
Подробное описание документа
Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ № 2018614711 Российская Федерация
Экспертная система по классификации дефектов топологии кристаллов интегральных микросхем : № 2018611706 : заявл. 20.02.2018 : опубл. 13.04.2018 / Вирясова А. Ю., Власов А. И., Гладких А. А. [и др.] ; правообладатель МГТУ им. Н.Э. Баумана.
Программа позволяет обработать цифровые данные фотографий топологии кристаллов интегральных микросхем, в частности при их дефектоскопии и может быть использована для оценки показателей качества поставляемых партий ИС и приборов. Программа может быть использована, например, для автоматизированного накопления статических данных об уровнях качества изготовления микросхем, а также для использования данных результатов отбраковки при прогнозировании наиболее вероятного срока активного функционирования поставляемых партий. Классификационная дефектоскопия поможет снизить степени риска комплектования радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) ИС и приборов, не соответствующих требованиям к их конструктивно-технологическому исполнению.
