Личный кабинет
Подробное описание документа
Патент на изобретение № 2664759 Российская Федерация, МПК G01R 31/28.
Способ повышения надежности гибридных и монолитных интегральных схем : № 2017141625 : заявл. 29.11.2017 : опубл. 22.08.2018 / Мешков С. А. ; патентообладатель МГТУ им. Н.Э. Баумана.
Изобретение относится к способу повышения надежности полупроводниковых монолитных и гибридных интегральных схем (ИС) в заданных условиях эксплуатации. Сущность: определяют скорость деградации информативных параметров ИС в результате искусственного старения. Строят функцию плотности вероятности информативных параметров с учетом технологических погрешностей параметров конструкции ИС. Определяют методом имитационного моделирования на основе полученных закономерностей и скорости деградации информативных параметров ИС траектории их изменения во времени. Определяют моменты времени параметрических отказов всех ИС в партии. Статистически обрабатывают моменты времени параметрических отказов всех ИС партии и определяют среднюю наработку на отказ. Корректируют номинальные информативные параметры ИС по критерию максимизации средней наработки на отказ, в течение которого функция плотности вероятности их информативных параметров во времени не выходит за пределы наложенных разработчиком ограничений. Синтезируют ...
