Подробное описание документа

Карпухин С. Д., Быков Ю. А.
   Атомно-силовая микроскопия / Карпухин С. Д., Быков Ю. А. - Москва : МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2012. - 38 с.

Айбукс

Войти и читать

https://ibooks.ru/products/343507

Изложены физические основы атомно-силовой микроскопии. Рассмотрены режимы работы атомно-силового микроскопа. Дано описание отдельных узлов атомно-силового микроскопа. Проанализированы технические возможности, особенности конструкции и требования к образцам зондовых микроскопов СММ-2000 и «НаноСкан». Для студентов, обучающихся по специальности «Материаловедение в машиностроении», а также для студентов, специализирующихся в области разработки нанотехнологий, наноструктурированных материалов и прецизионной оценки состояния поверхности

Коллекция

ЭБС «Айбукс»

Похожие издания

Карпухин С. Д., Быков Ю. А.
   Атомно-силовая микроскопия : учеб. пособие по дисциплине "Современные методы исследования структуры материалов" / Карпухин С. Д., Быков Ю. А. ; ред. Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2012. - 38 с. : ил. - Библиогр.: с. 38.

Читать онлайн

Кол-во в фондах 18 экз.

подробнее

Карпухин, С. Д. Атомно-силовая микроскопия / С. Д. Карпухин, Ю. А. Быков. — Москва : МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2012. — 38 с.

Читать онлайн

Коллекция ЭБС «Лань»

подробнее