Личный кабинет
Подробное описание документа
Горлов М. И., Сергеев В. А.
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий / Горлов М. И., Сергеев В. А. ; ред. Горлова М. И. - Ульяновский государственный технический университет, 2020. -
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
