Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

Гуревич В. И.
   Уязвимости микропроцессорных реле защиты: проблемы и решения : учебно-практическое пособие / Гуревич В. И. - Инфра-Инженерия, 2022. - ISBN 978-5-9729-0916-2.

Подробно рассмотрены проблемы уязвимости микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ) к естественным и преднамеренным деструктивным воздействиям, включающим кибернетические и электромагнитные воздействия. Описаны современные технические средства, с помощью которых могут осуществляться преднамеренные дистанционные деструктивные воздействия на МУРЗ. Рассмотрены как традиционные пассивные (экранированные шкафы, фильтры, кабели, специальные материалы и покрытия) средства защиты, так и новые, основанные на схемотехнических и аппаратных методах. Для инженеров, занимающихся разработкой, проектированием и эксплуатацией релейной защиты, а также для научных работников, преподавателей, аспирантов и студентов соответствующих дисциплин средних и высших учебных заведений.