Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

Жигалина О. М., Базалеева К. О.
   Анализ структуры материала методами просвечивающей электронной микроскопии : методические указания к выполнению лабораторной работы по дисциплине «методы структурного анализа» / Жигалина О. М., Базалеева К. О. - Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана, 2017. - ISBN 978-5-7038-4785-5.

Рассмотрены способы пробоподготовки объектов в просвечивающем электронном микроскопе, основные режимы работы микроскопа, методы расчета электронограмм при определении ориентации кристаллов, типа и периодов кристаллической решетки вещества, идентификации фазового состава, а также процесс получения изображений структуры с атомным разрешением. Для студентов, изучающих дисциплины «Методы структурного анализа», «Материаловедение», «Современные методы исследования материалов», «Материалы микро- и наноэлектроники» и др.