Подробное описание документа

Вишнякова С. М., Вишняков В. И.
   Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом : методические указания к лабораторной работе о-7 по курсу общей физики / Вишнякова С. М., Вишняков В. И. - Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана, 2014. - ISBN 978-5-7038-3832-7.

IPR SMART

Войти и читать

https://www.iprbookshop.ru/136021.html

Рассмотрены основные закономерности явления интерференции света и интерференции света в тонких пленках. Изложена методика наблюдения колец Ньютона и применения интерференционного метода для определения геометрических параметров поверхностей прозрачных тел, таких, как радиус кривизны поверхностей выпуклой и вогнутой линз, размеры воздушной полости в твердой среде. Для студентов второго курса всех специальностей МГТУ им. Н.Э. Баумана.