Личный кабинет
Подробное описание документа
Карпухин С. Д., Быков Ю. А.
Атомно-силовая микроскопия : учебное пособие / Карпухин С. Д., Быков Ю. А. - [Б.м.] : Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана, 2012.
Изложены физические основы атомно-силовой микроскопии. Рассмотрены режимы работы атомно-силового микроскопа. Дано описание отдельных узлов атомно-силового микроскопа. Проанализированы технические возможности, особенности конструкции и требования к образцам зондовых микроскопов СММ-2000 и «НаноСкан». Для студентов, обучающихся по специальности «Материаловедение в машиностроении», а также для студентов, специализирующихся в области разработки нанотехнологий, наноструктурированных материалов и прецизионной оценки состояния поверхности изделий.
