Личный кабинет
Подробное описание документа
Малышев К. В., Скороходов Е. А., Башков В. М.
Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Часть 1. Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов : методические указания к лабораторным работам по курсу «наноматериалы для радиоэлектронных средств» / Малышев К. В., Скороходов Е. А., Башков В. М. - Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана, 2007.
В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. В первой части изучается подготовка СТМ к модификации (диагностике) наноматериалов с помощью СТМ. Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей.
