Личный кабинет
Подробное описание документа
Малышев К. В., Башков В. М., Мешков С. А.
Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Часть 2. Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа : методические указания к лабораторным работам по курсу «наноматериалы для радиоэлектронных средств» / Малышев К. В., Башков В. М., Мешков С. А. - Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана, 2007.
В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. Во второй части изучается измерение электрических характеристик наноматериалов с помощью СТМ. Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей.
