Подробное описание документа

Бублик В. Т., Щербачев К. Д., Воронова М. И.
   Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия : учебное пособие / Бублик В. Т., Щербачев К. Д., Воронова М. И. - Издательский Дом МИСиС, 2016. - ISBN 978-5-87623-982-2.

IPR SMART

Войти и читать

https://www.iprbookshop.ru/64174.html

Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники».