Личный кабинет
Подробное описание документа
Методы диагностики полупроводниковых материалов и гетероструктур : учебно-методическое пособие / А. В. Кремлева, Л. А. Сокура, А. М. Смирнов [и др.]. — Санкт-Петербург : НИУ ИТМО, 2021. — 40 с.
Лабораторные работы, представленные в настоящем учебно-методическом пособии, предлагаются для выполнения студентам, обучающимся по направлению подготовки 16.04.01 «Техническая физика», для закрепления и применения знаний, полученных на лекциях, практических занятиях и во время самостоятельной работы. Учебно-методическое пособие посвящено исследованию оптических и структурных свойств полупроводниковых материалов и гетероструктур, применяемых в приборах и устройствах оптоэлектроники. Студентам предлагается пройти обучение на современных установках, использующихся в реализации действующих научных проектов, и научиться интерпретировать полученные экспериментальные данные. В учебно-методическом пособии также приведена теоретическая справка к лабораторным работам. Учебно-методическое пособие к выполнению лабораторных работ подготовлено на факультете лазерной фотоники и оптоэлектроники.
