Подробное описание документа
Нагибин, Ю. Т. Методы статистической обработки экспериментальных данных в оптоэлектронике. Регрессионный и корреляционный анализ : учебное пособие / Ю. Т. Нагибин. — Санкт-Петербург : НИУ ИТМО, 2011. — 54 с.
В учебном пособии изложена сущность, задачи и методика проведения регрессионного и корреляционного анализа при статистической обработке результатов экспериментальных измерений в оптоэлектронике. Описана ме-тодика проверки однородности ряда дисперсий. Расс
