Личный кабинет
Подробное описание документа
Малышев, К. В. Наноматериалы для радиоэлектронных средств. : методические указания / К. В. Малышев, Е. А. Скороходов, В. М. Башков. — Москва : МГТУ им. Н.Э. Баумана, [б. г.]. — Часть 1 : Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов: Методические указания к лабораторным работам по курсу «Наноматериалы для радиоэлектронных средств» — 2007. — 44 с.
В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. В первой части изучается подготовка СТМ к модификации (диагностике) наноматериалов с помощью СТМ. Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей.
